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更新時間:2023-08-18
光致發光光譜儀特點:顯微光致發光/低溫-光致發光及電致發光測量可適用高精密光致發光測繪到0.01nm為止的高空間分辨率自動化:波長監測,濾波及激光器范圍
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光致發光光譜儀
1)Maple-II, Micro PL System
特點:
顯微光致發光/低溫-光致發光及電致發光測量
可適用高精密光致發光測繪
到0.01nm為止的高空間分辨率
自動化:波長監測,濾波及激光器范圍
2)SC-100 ,Macro光致發光/PLE測量
緊湊的模塊化設計及經濟的選擇
多激發源(到9)
單獨及光纖耦合半導體激光器輸入輸出
用戶自定義系統
3)SC-100FS,Macro PL/壽命測量
時間分辨率單光子計數模塊
時間分辨能力:25ps/1ns(長距離模式)
簡便及精密的電壓監測
光致發光及熒光的脈沖以及CW源
作為本社的拉曼光致發光系統其結構簡便
參數:
Maple-II
SC-100
SC-100FS
檢測范圍
200~5000nm
200~5000nm(200-1600nm for Time)
光譜分辨率
0.015nm/pixel
雜散光阻斷
5*10-6
輸入源
246-1064(laser combine up to 3 line)
246-1064(laser combine up to 9 wavelength)
探測器
CCD/PMT/PD
CCD/PMT/PD/MCP
自動化
Laser line,power ,wavelength ,resolution polarization control by sw
共焦模塊
Real confocal pinhole/slit
X
物鏡
X10~X100(266-1800nm)
束斑尺寸
<1μm
<50~100μm
低溫選項
~4k(77k)
劉丹
86-029-81778987-205